Mikroskop złoty Nikon MA200

Zastosowane do obserwacji mikrostrukturalnych w naukach o materiałach, analizy i oceny materiałów takich jak metale, keramika i polimery.
Unikalny mikroskop o kształcie sześciennym oferuje rozwiązania do badań i rozwoju oraz nadzoru nad zapewnieniem jakości w przemyśle związanym z materiałami motoryzacyjnymi.
Obsługa jasnych pól, ciemnych pól, interwencji różnicowych, fluorescencji, prostej polaryzacji i innych metod obserwacji, ma kompaktową strukturę, łatwą obsługę, równomierne oświetlenie, wyraźne obrazowanie, oszczędność energii i trwałość.

Główne cechy
1, konstrukcja kostki, oszczędność miejsca, wysoka odporność na trzęsienia ziemi
ECLIPSE MA200 zaoszczędza 33% miejsca w porównaniu z TME300, dzięki czemu nowa konstrukcja jest bardziej efektywna w zwiększeniu operacyjności urządzenia, a jednocześnie zmniejsza uszkodzenia związane z długą obserwacją użytkownika.
System optyczny korekcji nieograniczonej CFI60
System optyczny CFI60 produkuje wyraźne, wyraźne, wysoką rozdzielczość i wysoki kontrast obrazu, a także zmniejsza błysk. Obiektyw 1x tego typu umożliwia obserwację pola widzenia o średnicy 25 mm i umożliwia pełną obserwację próbek opakowanych w żywicy. Ciemny widok, DIC、 Można również obserwować fluorescencję i polaryzację. Ponadto specjalnie zaprojektowane kolumny transmisyjne umożliwiają przeprowadzenie wielu obserwacji transmisji.
3, łatwa obsługa
Części, które często wymagają operacji, koncentrują się blisko obserwatora, czyli przed mikroskopem. Na przykład: światło polem widzenia, światło otworu, polarizator, detektor, podłączenie płyty kontrolnej i przełączanie jasnego i ciemnego pola itp.
4 Połączenie obrazu cyfrowego
System monitorowania z konwerterem obiektywu przesyła informacje o obrazie uzyskanym przez obiektyw za pośrednictwem jednostek sterujących aparatami cyfrowymi DS-L2 i DS-U2. Rozmiar obrazu jest automatycznie dostosowany na komputerze w zależności od regulacji wielokrotnika powiększenia mikroskopu.
Ta regulacja powiększenia obrazu cyfrowego jest wykonywana automatycznie i zminimalizuje błędy.
Niezależny kontroler wyświetlacza typu DS-L2 (dane obrazu można zapisać na dysku USB),
DS-L2
Kontroler podłączenia komputera typu DS-U2, który musi być używany z oprogramowaniem NIS Elements.
DS-U2
Zdjęcie cyfrowe (opcjonalna konfiguracja)
Funkcja połączenia NIS-Elements oprogramowania graficznego Nikon umożliwia połączenie i analizę większych obrazów. Automatyczne pomiary w oprogramowaniu NIS-Elements umożliwiają analizę cząstek metalowych. Oprócz tego oprogramowanie do pomiaru cząstek Metalo oraz oprogramowanie do odlewu umożliwiają automatyczną analizę wielkości żelaza i cząstek na podstawie ASTM i JIS.
Funkcje oprogramowania NIS Elements umożliwiają bezproblemowe połączenie mikroobrazów;
Funkcje w oprogramowaniu NIS Elements umożliwiają przeprowadzenie analiz materiałów, takich jak analiza wielkości ziarna, analiza stopy grafetyzacji żelaza odlewnego z tuszem itp.
Obiektyw Nikon Reverse Metalized Microscope MA200 CFI LU PLAN FLUOR EPI:
Powiększenie wielokrotne 5X; otwór liczbowy (NA) 0,15; Odległość robocza (W.D.) 23.5mm
Wielokrotność powiększenia 10x; otwór liczbowy (NA) 0,30; Odległość robocza (W.D.) 17.5mm
Powiększenie wielokrotne 20X; otwór liczbowy (NA) 0,45; Odległość robocza (W.D.) 4.5mm
50x wielokrotność powiększenia; otwór liczbowy (NA) 0,80; Odległość robocza (W.D.) 1.0mm
Wielokrotność powiększenia 100x; otwór liczbowy (NA) 0,90; Odległość robocza (W.D.) 1.0mm